[发明专利]一种硒薄膜沉积方法及系统及其等离子头无效
申请号: | 201110195062.9 | 申请日: | 2011-07-07 |
公开(公告)号: | CN102816999A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
发明(设计)人: | 刘志宏;杨国辉;蔡陈德;张瀛方;周大鑫 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | C23C14/32 | 分类号: | C23C14/32;C23C14/06;H01L31/18 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种硒薄膜沉积方法及系统及其等离子头,所述硒薄膜沉积方法包括以下步骤:首先,提供等离子头;接着,于常压下承载基板;之后,通过等离子头将固态硒源游离化,以沉积硒薄膜于基板上;其中等离子头包括等离子腔体、壳体以及固态硒源,等离子腔体产生等离子,而壳体包围等离子腔体,且承载固态硒源。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 沉积 方法 系统 及其 等离子 | ||
【主权项】:
一种硒薄膜沉积方法,其特征在于,包括:提供一等离子头;于常压下承载一基板;以及通过该等离子头将固态硒源游离化,以沉积硒薄膜于该基板上。
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