[发明专利]高频线材测试机无效
申请号: | 201110195719.1 | 申请日: | 2011-07-13 |
公开(公告)号: | CN102355310A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 杨世光 | 申请(专利权)人: | 东莞中逸电子有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;G01R23/16 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人: | 彭长久 |
地址: | 523000 广东省东莞市黄江镇*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种高频线材测试机,包括一用于完成计算的ARM9主控CPU、一用于完成测试过程中各种信号切换的逻辑控制芯片、一用于连接在被测线材一端的高频信号发送模组和一用于连接在被测线材另一端的高频信号接收模组;测试过程中,在ARM9主控CPU设定的扫频时间内,按照设定的频率范围,由逻辑控制芯片控制使高频信号发送模组向被测线材的一端发出高频倍号,被测线材的另一端由高频接收模组拾取频率点信号,再送到ARM9主控CPU中进行计算,从而实现被测线材传输高频信号的特性。该高频线材测试机专门用于各种高频信号的线材测试,具有频率工作范围更高、更宽,频率调整速度快、测试速度快、测试接口多的特点,从而克服传统技术的不足。 | ||
搜索关键词: | 高频 线材 测试 | ||
【主权项】:
一种高频线材测试机,其特征在于:包括一用于完成计算的ARM9主控CPU、一用于完成测试过程中各种信号切换的逻辑控制芯片、一高频信号发送模组和一高频信号接收模组;所述ARM9主控CPU上分别电性连接有一掉电不丢失数据的FLASH存储器、一用于存取程序使用中过程变量的RAM存储器、一用于扫描外部键盘输入的面板按键扫描模块和一用于显示高频线材测试结果的显示模块;所述高频信号发送模组包括依次电性连接的一用于发出基点频率信号的有源晶振、一产生多点频率信号的直接数字频率合成芯片、一进行频率扩展的倍频电路、一将频率信号放大的高频放大电路和用于连接在被测线材一端的多个发送端口;所述高频信号接收模组包括依次电性连接的用于连接在被测线材另一端的多个接收端口、一完成对拾取的信号选频放大的高频接收电路、一AC/DC转换电路、一A/D转换电路和一实现两个不同的时钟域间的数据缓冲的先进先出数据缓存器;所述逻辑控制芯片分别与上述ARM9主控CPU、直接数字频率合成芯片、倍频电路、A/D转换电路和先进先出数据缓存器电性连接;当对被测线材进行测试时,在ARM9主控CPU设定的扫频时间内,按照设定的频率范围,由有源晶振发出基点频率信号,再由直接数字频率合成芯片产生多个频率点信号,经倍频电路扩展频率、高频放大电路放大信号强弱,最终发送端口对被测线材的一端发出高频测试信号,对被测线材进行扫频,被测线材的另一端由高频接收电路及接收端口配合接收这些频率点信号,经AC/DC转换将交流信号转为直流信号,再经A/D转换后通过先进先出数据存储器将数字扫频信息送入到中央处理器中,中央处理器根据功率衰减的情况判断被测线材在设定的频率范围内以及某些频率点传输高频信号的特性。
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