[发明专利]变直径不可拆卸主轴原位超声成像检测方法及检测装置无效
申请号: | 201110198427.3 | 申请日: | 2011-07-15 |
公开(公告)号: | CN102331454A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 陆铭慧;刘勋丰;李昌胜;刘志云 | 申请(专利权)人: | 南昌航空大学 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/26 |
代理公司: | 江西省专利事务所 36100 | 代理人: | 张静 |
地址: | 330063 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明涉及变直径不可拆卸主轴原位超声成像检测方法及检测装置。其检测步骤如下:首先判断待测轴的距轴端面最近的变截面的长径比L/D值≤1.2时,采用纵波探头检测轴的该区域,调节CCD工业摄像机使焦点落在固定有两个发光二极管的纵波探头顶面,手动扫查轴端面进行检测,此时CCD摄像机实时地记录图像存入计算机,计算机实时地画图显示,如果有缺陷,计算机会在出现缺陷的地方标示出,如标注为红色;如变截面区域的长径比L/D>1.2,则利用斜探头进行检测,本发明方法及成像检测装置能满足原位在役检测的要求,装置结构简单,操作方便,适应场地能力强,信噪比高,能实时成像和后处理成像,所显示缺陷的位置信息准确。 | ||
搜索关键词: | 直径 不可 拆卸 主轴 原位 超声 成像 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种变直径不可拆卸主轴原位超声成像检测方法,其特征在于:步骤如下: a、首先判断待测轴的距轴端面最近的变截面的长径比L/D值,其中L为待测轴端面与变截面之间的距离,D为变截面直径,当变截面区域的长径比L/D≤1.2时,采用斜探头检测轴的该区域,调节CCD工业摄像机使焦点落在固定有两个发光二极管的纵波探头顶面,手动扫查轴端面进行检测,利用超声发射接收仪产生激励脉冲来激励超声探头,使其产生超声波进入待测工件内部,并接受来自工件的反射回波信号,超声采集卡采集超声接收仪接收到的回波信号,同时将信号输到计算机存储,CCD工业摄像机实时地拍摄检测端面的画面,并通过成像软件来识别超声探头顶端设置的两个发光二极管的位置,从而获得手动扫查时探头的位置信息和超声波入射的方向信息,同时将信息存入计算机,计算机根据超声信号、探头的位置信息、超声波的入射方向信息、探头的折射角、工件的声速以及待测轴的结构尺寸实时地画图显示,如果有缺陷,计算机会在出现缺陷的地方标示出,如标注为红色;b、如变截面区域的长径比L/D>1.2,则利用纵波探头进行检测,调节CCD工业摄像机4使焦点落在固定有两个发光二极管的探头顶面,手动扫查轴的端面,利用超声发射接收仪产生激励脉冲来激励超声探头,使其产生超声波进入待测工件内部,并接受来自工件的反射回波信号,超声采集卡采集超声接收仪接收到的回波信号,同时将信号输到计算机存储,CCD工业摄像机实时地拍摄检测端面的画面,并通过成像软件来识别超声探头顶端设置的两个发光二极管的位置,从而获得手动扫查时探头的位置信息和超声波入射的方向信息,同时将信息存入计算机,计算机根据超声信号、探头的位置信息、超声波的入射方向信息、探头的折射角、工件的声速以及待测轴的结构尺寸实时地画图显示,如果有缺陷,计算机会在出现缺陷的地方标示出; c、继续进行下一变截面的检测,当该变截面的长径比L/D≤1.2时重复步骤a,如该变截面区域的长径比L/D>1.2,则重复步骤c,直至检测完所有待测轴的所有变截面。
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