[发明专利]集成电路管脚三维检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 201110204873.0 | 申请日： | 2011-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN102313745A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 王瑜辉;尹周平;熊有伦;罗明成;张少华;郑金驹 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/24;G01B11/03;G01B11/14;G01B11/26 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路管脚三维检测装置，包括图像采集单元(2，3)、平面反射镜(4)、光源(5)、反光板(6)和图像检测处理单元(1)，待检测的芯片(8)设置在反光板(6)下方，所述光源(5)发出的光束经反光板(6)反射后照射在待检测的芯片(8)上，再经平面反射镜(4)发射后入射到图像采集单元(2，3)，该图像采集单元(2，3)与图像检测处理单元(1)连接，图像采集单元(2，3)采集获得待检测的芯片(8)的图像，传送到图像检测处理单元(1)，经处理后即可实现对芯片管脚的三维检测。本发明能够自动检测芯片管脚的缺失、折断、宽度、间距、栈高等外形几何关键参数信息并判定芯片是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 管脚 三维 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路管脚三维检测装置，包括图像采集单元(2，3)、平面反射镜(4)、光源(5)、反光板(6)和图像检测处理单元(1)，待检测的芯片(8)设置在反光板(6)下方，所述光源(5)发出的光束经反光板(6)反射后照射在待检测的芯片(8)上，再经平面反射镜(4)发射后入射到图像采集单元(2，3)，该图像采集单元(2，3)与图像检测处理单元(1)连接，图像采集单元(2，3)采集获得待检测的芯片(8)的图像，传送到图像检测处理单元(1)，经处理后即可实现对芯片管脚的三维检测。
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