[发明专利]测试装置

摘要

本发明提出了一种测试装置，其包含至少一横梁、移动模组、基座、控制模组以及场探头。横梁架设于电波暗室内。基座透过线材耦接于移动模组，其中移动模组用以放出线材与收起线材，以使基座透过线材来进行上升与下降。控制模组配置于移动模组上，用以接收命令信号来控制移动模组于横梁上的移动，并控制移动模组收放线材。场探头配置于基座上，并用以测试电磁波，其中场探头藉由基座的升降以进行升降，并藉由移动模组的移动而进行移动，使得场探头测试不同位置的电磁波。

主权项

一种测试装置，其特征在于，包含：至少一横梁，架设于一电波暗室内；一移动模组，配置所述些横梁上以于所述些横梁上进行移动；一基座，透过一线材耦接于所述移动模组，其中，所述移动模组用以放出所述线材与收起所述线材，以使所述基座透过所述线材来进行上升与下降；一控制模组，配置于所述移动模组上，用以接收一命令信号来控制所述移动模组于所述横梁上的移动，并控制所述移动模组收放所述线材；以及一场探头，配置于所述基座上，并用以测试一电磁波，其中，所述场探头藉由所述基座的升降以进行升降，并藉由所述移动模组的移动而进行移动，使得所述场探头测试不同位置的所述电磁波。