[发明专利]提高阵列探测器成像分辨率的系统及其实现方法无效
| 申请号： | 201110206944.0 | 申请日： | 2011-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN102353389A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 卢伟超 | 申请（专利权）人： | TCL集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D3/028 | 分类号： | G01D3/028;G02B26/08;H04N5/232 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人： | 王永文;杨宏 |
| 地址： | 516001 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高阵列探测器成像分辨率的系统及其实现方法，所述提高阵列探测器成像分辨率的系统包括依次放置的光楔调制器、镜头、分色滤镜和探测器单元。通过旋转光楔调制器使成像平面发生多次微小移动，从而获得多幅具有互补信息区间的图像，进而将所述具有互补信息区间的图像合成一幅高分辨率图像，达到提高阵列探测器成像分辨率的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 阵列 探测器 成像 分辨率 系统 及其 实现 方法 | ||
【主权项】：
一种提高阵列探测器成像分辨率的系统，其特征在于，包括： 光楔调制器，其包括第一光楔和第二光楔，所述第一光楔和第二光楔的主截面平行且同向放置；镜头；分色滤镜；探测器单元;其中，所述光楔调制器、镜头、分色滤镜和探测器单元依次放置；所述光楔调制器的光轴与镜头的光轴重合，所述镜头的光轴与探测器单元所在的表面垂直，并位于探测器单元表面的中心。
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