[发明专利]面向光学传感器的一维光谱数据特征检测方法有效
| 申请号： | 201110212578.X | 申请日： | 2011-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN102323241A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 曹英杰;祝永新;荣国光;吴超;谢七曜 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光学通信技术领域的面向光学传感器的一维光谱数据特征检测方法，根据光学传感器所得待测分子溶液反射率-波长的反射谱一维曲线上待检测的特征尺寸制定降采样因子，通过对原始数据依次进行降采样、均值滤波和线性检测，得到一维曲线的粗检测特征点，如峰值和谷值；然后以特征点为中心，在原始数据周围进行第二次线性检测得到原始一维曲线的精确特征点。最后将该特征点位置减去基准位置得到红移，并利用红移与溶液浓度变化的线性关系得出待测分子溶液的浓度。本发明相比于使用基于傅立叶变换的传统信号处理方法，算法效率和硬件资源消耗大为减小，能够提升检测设备的性能，提升检测设备的便携性。 | ||
| 搜索关键词： | 面向 光学 传感器 光谱 数据 特征 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种面向光学传感器的一维光谱数据特征检测方法检测方法，其特征在于，根据光学传感器所得的待测分子溶液反射率‑波长的一维曲线上待检测的特征尺寸制定降采样因子，通过对原始数据依次进行降采样、均值滤波和线性检测，得到一维曲线的粗检测特征点，然后以特征点为中心，在原始数据周围进行第二次线性检测得到原始一维曲线的精确特征点，最后将该特征点位置减去基准位置得到红移，并利用红移与溶液浓度变化的线性关系得出待测分子溶液的浓度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学，未经上海交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110212578.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
