[发明专利]一种功能-分子-结构成像系统及方法有效

专利信息
申请号: 201110213258.6 申请日: 2011-07-28
公开(公告)号: CN102429668A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 田捷;杨鑫;钟江宏;秦承虎 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种针对医学同位素的低成本大视野的功能-分子-结构成像系统及方法。该系统包括:功能-分子-结构成像同轴探测器,对物理成像对象进行扫描,得到物理成像对象的功能与分子成像影像信息和结构成像影像信息,并输出给数据处理装置;数据处理装置,接收和存储功能与分子影像信息和解剖结构信息,进行功能-结构图像的融合计算,绘制多模态融合后的断层图像,并传送至计算机设备予以显示;计算机设备,实现图像重建,并显示功能-分子-结构多模态融合的断层成像。本发明由于采用电荷耦合器件与螺旋CT在同轴孔径位置探测有效信息,相对于PET/CT、SPECT/CT等双模态成像装置扩大了成像轴向视野,降低了全身成像时间,极大地降低了同位素成像成本。
搜索关键词: 一种 功能 分子 结构 成像 系统 方法
【主权项】:
一种功能‑分子‑结构成像系统,其特征在于,该成像系统包括:功能‑分子‑结构成像同轴探测器(10),用于对成像腔体装置(14)内部放置的物理成像对象进行扫描,得到物理成像对象的功能与分子成像影像信息和结构成像影像信息,并将该功能与分子成像影像信息和结构成像影像信息输出给数据处理装置(13);数据处理装置(13),用于接收和存储来自功能‑分子‑结构成像同轴探测器(10)的功能与分子影像信息和解剖结构信息,进行功能‑结构图像的融合计算,绘制多模态融合后的断层图像,并将该断层图像传送至计算机设备(16)予以显示;以及计算机设备(16),通过自身的外部接口接收用户操作与指令,实现图像重建,并显示功能‑分子‑结构多模态融合的断层成像。
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