[发明专利]基于Sagnac干涉的集成光学相位调制器直流漂移检测方法无效
| 申请号： | 201110213846.X | 申请日： | 2011-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN102313558A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 陈晨;石邦任;郭丽君;赵猛;张荣 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01C19/72 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 陶尊新 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种基于Sagnac干涉的集成光学相位调制器直流漂移检测方法，特别涉及退火质子交换LiNbO3光波导，属于集成光学器件检测技术领域。现有检测方法是一种Mach-Zehnder干涉调制法，双光路干涉，光路损耗大，因而检测精度较低。本发明其特征在于，基于Sagnac干涉测量退火质子交换LiNbO3光波导集成光学相位调制器π/2偏置相位电压工作点直流漂移。相对于现有Mach-Zehnder干涉调制法，Sagnac干涉为多圈光束干涉，其光路具有互易结构，检测精度提高达两个数量级。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 sagnac 干涉 集成 光学 相位 调制器 直流 漂移 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于Sagnac干涉的集成光学相位调制器直流漂移检测方法，其特征在于，基于Sagnac干涉测量退火质子交换LiNbO3光波导集成光学相位调制器π/2偏置相位电压工作点直流漂移。
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