[发明专利]电导率测量系统的校准有效
| 申请号： | 201110214909.3 | 申请日： | 2011-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102346242A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | A·贝维拉夸;R·曼苏尔;D·W·马什;冯小星;R·G·库尼茨基 | 申请（专利权）人： | 梅特勒-托利多桑顿公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R15/14 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 蔡胜利 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了用于校准数字化电导率与温度测量系统的系统和方法。连接器介于数字化电导率与温度测量系统的传感器与变送器之间。具有值已知的可选择的电阻器的校准器还可以连接至连接器。传感器测量所选择的电阻器的实测电阻。数字化电导率与温度测量系统然后将实测电阻与电阻器的已知值比较以计算校准因数。 | ||
| 搜索关键词： | 电导率 测量 系统 校准 | ||
【主权项】：
一种数字化电导率测量系统的校准方法，其中所述数字化电导率测量系统包括与传感器电连接的变送器，其中，在所述传感器中具有测量电路和电极，所述方法包括：在所述变送器与所述传感器之间插接连接器；将校准器连接至所述连接器，所述校准器包括至少一个具有已知值的电阻器；针对所述至少一个电阻器测量实测电阻；并且将所述至少一个电阻器的已知值与所测量的实测电阻比较，以确定第一校准因数。
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