[发明专利]LCD模组的电压和透过率的关系曲线的交流测试方法和系统有效
申请号: | 201110216961.2 | 申请日: | 2011-07-29 |
公开(公告)号: | CN102708814A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 张智;陈维涛;张新宇 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36;G01R31/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 迟姗;张颖玲 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种Module V-T的交流测试方法和系统,包括:A.确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值;B.在第N个测试周期内,将第N个实际电压值发送给电压源,控制电压源输出对应的方波交流电压对LCD模组(Module)的Data信号进行加压;C.在第N个测试周期结束时,测量并读取LCD模组的亮度值,并根据第N个实际电压值和读取的亮度值绘制第N个测试周期对应的V-T曲线;D.使N=N+1,返回步骤B;N为正整数。通过本发明,能够实现Module V-T的交流测试。 | ||
搜索关键词: | lcd 模组 电压 透过 关系 曲线 交流 测试 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种Module V‑T的交流测试方法,其特征在于,该方法包括:A、确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值;B、在第N个测试周期内,将第N个所述实际电压值发送给所述电压源,控制所述电压源输出对应的方波交流电压对液晶显示器(LCD)模组(Module)的Data信号进行加压;C、在所述第N个测试周期结束时,测量并读取LCD模组的亮度值,并根据所述第N个实际电压值和读取的亮度值绘制所述第N个测试周期对应的V‑T曲线;D、使N=N+1,返回步骤B;其中,所述N为正整数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110216961.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。