[发明专利]测试装置及测试方法无效
申请号: | 201110217738.X | 申请日: | 2011-08-01 |
公开(公告)号: | CN102411121A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 德元功;桥本健司 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试株式会社 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/36 |
代理公司: | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人: | 齐永红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种测试装置,对被测试器件进行测试,包括:感应负载部,其具有感应成分,设于向被测试器件流过测试电流的路径上;转换部,其转换是否将来自感应负载部的测试电流供给到被测试器件;断路控制部,其根据被测试器件的状态转换转换部并切断路径;电压控制部,其将感应负载部与转换部之间的路径的电压控制为预定的钳位电压以下。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种测试装置,是对被测试器件进行测试的测试装置,包括:感应负载部,其具有感应成分,设置于向所述被测试器件流过测试电流的路径上;转换部,其转换是否将来自所述感应负载部的所述测试电流供给到所述被测试器件;断路控制部,其根据所述被测试器件的状态转换所述转换部,并切断所述路径;电压控制部,其将所述感应负载部与所述转换部之间的所述路径的电压控制到预定的钳位电压以下。
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