[发明专利]一种测试性一阶相关性综合模型建立方法

摘要

本发明公开了一种测试性一阶相关性综合模型建立方法，包括以下几个步骤：步骤一：获取系统结构；步骤二：选择第一个单元；步骤三：获取单元的基本信息；步骤四：建立端口外部传递关系；步骤五：建立端口内部传递关系；步骤六：建立故障模式传递关系；步骤七：建立测试监测关系；步骤八：判断数据信息是否获取完毕；步骤九：根据上述步骤得到的数据，建立产品测试性模型。在本发明方法中，将各个单元的高阶相关性关系，根据产品的特点，分解为几类一阶相关性关系，包括端口外部传递关系、端口内部传递关系、故障模式传递关系、测试监测关系。

主权项

1.一种测试性一阶相关性综合模型建立方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：获取系统结构系统结构如下：ST＝(U，PU)      (1)式中：ST为系统结构；U为单元集合，U＝{u_q|q＝1，2，…，Q}，u_q为第q个单元的名称，Q为单元的数量；PU为父单元序号集合，PU＝{pu_q|q＝1，2，…，Q}，pu_q为第q个单元的父单元的序号，当u_q为最顶层单元时，此值为-1；步骤二：选择第一个单元在系统结构中选择一个单元，进行下述步骤；步骤三：获取单元的基本信息单元的基本信息包括输入端口集合、输出端口集合、故障模式、测试；输入端口集合如下：IP＝{ip_j|j＝1，2，…，J}    (2)式中：IP为单元的输入端口集合；ip_j为单元的第j个输入端口；J为单元的输入端口数量；输出端口集合如下：OP＝{op_k|k＝1，2，…，K}       (3)式中：OP为单元的输出端口集合；op_k为单元的第k个输出端口；K为单元的输出端口数量；故障模式如下：FM＝(FMN，FMP)       (4)式中：FM为单元的故障模式；FMN＝{fmn_i|i＝1，2，…，I}，fmn_i为单元的第i个故障模式名称，I为单元的故障模式数量；FMP＝{fmp_i|i＝1，2，…，I}，fmp_i为单元的第i个故障模式的故障率；测试如下：TP＝(TPN，TPT)       (5)式中：TP为单元的测试；TPN＝{tpn_l|l＝1，2，…，L}，tpn_l为单元的第l个测试名称，L为单元的测试数量；TPT＝{tpt_l|l＝1，2，…，L}，tpt_l为单元的第l个测试的测试类型；步骤四：建立端口外部传递关系若该单元为最顶层单元，则不需要建立端口外部传递关系；否则，需要建立端口外部传递关系；端口外部传递关系如下：ET＝(UP，ED，UP′)       (6)式中：ET为端口外部传递关系；UP＝{up_m|m＝1，2，…，M}，up_m为本单元的一个端口，up_m∈(IP∪OP)，为输入端口或者输出端口，M为单元的端口外部传递关系数量；ED＝{ed_m|m＝1，2，…，M}，ed_m为传递方向，ed_m∈{正向，反向，双向}，传递方向正向表示由本单元的端口传向其它单元的端口，反向表示由其它单元的端口传向本单元的端口，双向表示既能由本单元的端口传向其它单元的端口又能由其它单元的端口传向本单元的端口；UP′＝{up′_m|m＝1，2，…，M}，up′_m为其它单元的一个端口，up′_m∈(IP′∪OP′)，其它单元为同一层次的单元或者上层的单元；步骤五：建立端口内部传递关系若该单元是最底层单元，则需要建立端口内部传递关系；否则，不需要建立端口内部传递关系；端口内部传递关系如下：IT＝(IIP，ID，IOP)      (7)式中：IT为端口内部传递关系；IIP＝{iip_n|n＝1，2，…，N}，iip_n为单元的一个输入端口，iip_n∈IP，N为单元的端口内部传递关系数量；ID＝{id_n|n＝1，2，…，N}，id_n为传递方向，id_n∈{正向，反向，双向}，传递方向正向表示由本单元的输入端口传向本单元的输出端口，反向表示由本单元的输出端口传向本单元的输入端口，双向表示既能由本单元的输入端口传向本单元的输出端口又能由本单元的输出端口传向本单元的输入端口；IOP＝{iop_n|n＝1，2，…，N}，iop_n为单元的一个输出端口，iop_n∈OP；步骤六：建立故障模式传递关系故障模式传递关系如下：FT＝(FM，FOP)         (8)式中：FT为故障模式传递关系；FM＝{fm_i|i＝1，2，…，I}，fm_i为单元的第i个故障模式，I为单元的故障模式数量；FOP＝{fop_ip|i＝1，2，…，I；p＝1，2，…，P}，fop_ip为第i个故障模式能够传递出去的单元的一个输出端口，fop_ip∈OP，P为第i个故障模式的传递关系数量；步骤七：建立测试监测关系测试监测关系如下：TPT＝(TTP，TFM，TIP，TOP)        (9)式中：TPT为测试监测关系；TTP＝{ttp_q|q＝1，2，…，Q}，ttp_q为单元的一个测试，Q为单元的测试数量；TFM＝{tim_q|q＝1，2，…，Q}，tim_q为第q个测试能够测到的本单元故障模式集合，TIP＝{tip_q|q＝1，2，…，Q}，tip_q为第q个测试监测的本单元输入端口集合，TOP＝{top_q|q＝1，2，…，Q}，top_q为第q个测试监测的所在层次的下层单元的输出端口集合，当测试为最底层单元的测试时，监测的输出端口集合为空；步骤八：判断数据信息是否获取完毕按照上述步骤，获得了一个单元的信息，若在系统结构中的所有单元的信息获取完毕，则数据准备结束，进入下一步骤；否则，选择下一个单元，转到步骤三；步骤九：根据上述步骤得到的数据，建立产品测试性模型。通过以上步骤，建立了整个产品的一阶相关性关系，根据上述步骤得到的一阶相关性关系建立产品的测试性一阶相关性综合模型。