[发明专利]多点式光学测量装置以及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201110219363.0 申请日: 2011-07-28
公开(公告)号: CN102901617A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 潘鼎翔;潘世耀;宋新岳 申请(专利权)人: 致茂电子股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 冯志云;邢雪红
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭露了一种多点式光学测量装置及测量方法,该多点式光学测量装置用以测量一有源光源,并至少包含分光模块、第一色品图色彩对应函数滤波片、第二色品图色彩对应函数滤波片、第一感光矩阵以及第二感光矩阵。该多点式光学测量装置通过对待测光源进行分光而使本发明对待测元件的光学分析速度将不受色轮的转速上限影响。另外,借由本发明的感光矩阵设计,本发明亦能对多束待测光线同时地进行感测或分析。本发明亦使用了色品图色彩对应函数滤波片来取代现有的彩色滤光片,使待测光线的频谱能被精准地控制在指定的范围内,以使过滤后光线的精度得以达到检测所需的标准。
搜索关键词: 多点 光学 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种多点式光学测量装置,用以测量一有源光源,该有源光源具有N个像素相对应地发射N条待测光线,其特征在于,所述多点式光学测量装置至少包含:一分光模块,用于接收该N条待测光线以产生N条相对应的第一光线以及N条相对应的第二光线;一第一色品图色彩对应函数滤波片,用于过滤该N条第一光线以相对应地产生N条第一过滤后光线;一第二色品图色彩对应函数滤波片,用于过滤该N条第二光线以相对应地产生N条第二过滤后光线;一第一感光矩阵,用以分别感测该N条第一过滤后光线以产生N个第一感测数据;以及一第二感光矩阵,用以分别感测该N条第二过滤后光线以产生N个第二感测数据;其中,N为大于等于二的自然数。
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