[发明专利]一种适用于石墨烯基器件的栅氧介质的形成方法无效

专利信息
申请号: 201110219738.3 申请日: 2011-08-02
公开(公告)号: CN102290333A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 周鹏;孙清清;王鹏飞;吴东平;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L21/04 分类号: H01L21/04
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于碳基集成电路制造技术领域,具体为一种适用于石墨烯基器件的栅氧介质的形成方法。本发明是在石墨烯基器件中采用原子层淀积方法生长氮化硼(BN),作为高k栅氧介质。生长BN可以突破目前BN靠机械剥离形成、大小难以控制、无法整合到石墨烯基电路集成工艺中的巨大难题,并且通过控制原子层淀积生长参数可以控制BN的结构与缺陷,进而能够提供多种不同石墨烯基器件应用,实现具有较高迁移率的石墨烯基场效应晶体管。
搜索关键词: 一种 适用于 石墨 器件 介质 形成 方法
【主权项】:
一种适用于石墨烯基器件的栅氧介质的形成方法,其特征在于具体步骤包括:提供一个半导体衬底;在所述半导体衬底上形成一层石墨烯;在所述石墨烯层上形成金属接触并定义源、漏电极;采用原子层淀积方法生长氮化硼,作为栅氧介质;在所述栅氧介质上形成栅电极。
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