[发明专利]基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法有效

专利信息
申请号: 201110223261.6 申请日: 2011-08-05
公开(公告)号: CN102410880A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 代少升;肖义;黄俊 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 刘小红
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明请求保护一种基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法,属于信号探测技术领域。针对传统的基于标准黑体辐射源的盲元检测方法依赖昂贵黑体和固定暗室的条件限制,不能根据需要随时随地进行盲元检测,提出一种通过CPLD编程灵活方便的调整红外焦平面阵列在不同积分时间下的响应输出值,根据响应输出值计算各个探测单元的响应率,依据盲元定义检测盲元。记录不同积分时间下的探测单元响应输出值、盲元检测及盲元补偿。本发明方法实施过程简单,在IRFPA盲元检测中具有应用和推广价值。
搜索关键词: 基于 积分 时间 调整 红外 平面 阵列 检测 方法
【主权项】:
一种基于积分时间调整的盲元检测方法,其特征在于,记录不同积分时间下探测单元IRFPA像元响应的输出值;在红外成像系统动态响应为线性的区间内,连续取多个积分时间下像元响应的平均灰度值作为对应像元的响应率;根据像元的响应率判定有效像元和盲元,定位并记录盲元,利用盲元最邻近的帧内像元和帧间像元的均值,对定位后记录的盲元进行图像真值的实时补偿。
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