[发明专利]多测试夹具的PCB板格栅测试系统及其测试方法无效

专利信息
申请号: 201110225825.X 申请日: 2011-08-08
公开(公告)号: CN102928724A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 艾诺基弗 申请(专利权)人: 深圳麦逊电子有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 董彬
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种多测试夹具的PCB板格栅测试系统及其测试方法,涉及PCB板的栅格测试系统及测试方法;该系统,它包括:上料装置,所述上料装置包括放料台、上料抓料装置及上料移动装置;测试装置,测试装置包括上模及下模;收料装置,所述收料装置包括收料台、收料抓料装置及收料移动装置;上模及下模的夹具框各自至少设置有两个夹具;该方法中包括上料步骤、测试步骤及下料步骤,其中测试步骤中,测试装置的下模通过不同的夹具至少固定两个待检测的PCB板,下模将两个待检测的PCB板固定后,下模向上移动,上模集下模同时对待检测的PCB板进行检测;其有益效果在于:该系统及方法提高了测试系统的测试效率,同时也降低了测试成本。
搜索关键词: 测试 夹具 pcb 格栅 系统 及其 方法
【主权项】:
一种多测试夹具的PCB板格栅测试系统,它包括:上料装置,所述上料装置包括放料台、上料抓料装置及上料移动装置;测试装置,所述测试装置包括上模及下模,所述上模及下模各自设置有夹具框;收料装置,所述收料装置包括收料台、收料抓料装置及收料移动装置;其特征在于:所述上模及下模的夹具框各自至少设置有两个夹具。
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