[发明专利]半导体激光器芯片P面清洗和N面抛光方法无效
申请号: | 201110227630.9 | 申请日: | 2011-08-10 |
公开(公告)号: | CN102354662A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 李再金;芦鹏;李特;王勇;乔忠良;张斯钰;李辉;曲轶;高欣;李占国;李林;魏志鹏;邹永刚;薄报学;刘国军 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/00;B24B29/00;B08B3/02;H01S5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 130022 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于半导体光电子学技术领域,涉及一种半导体激光器P面清洗和N面抛光方法,包括真空泵,抽气管,高速旋转真空载台,防护罩,承片盘,转速显示,电源开关,低速运转时间,低速调节钮,高速调节钮,高速运转时间,启动键,吸片键,超声雾化器,波纹管,定时旋钮,电源键,雾量调节钮;通过真空泵抽真空,将芯片吸附在承片盘上,运转高速旋转真空载台使芯片旋转,再用超声雾化器使清洗(抛光)液雾化,将雾化的小雾滴喷射到旋转的芯片上,从而使芯片清洗(抛光)均匀,达到更好的清洗(抛光)效果,提高了半导体激光器芯片P面清洗和N面抛光质量。本发明结构简单、制作成本低,适用于各种半导体激光器芯片P面清洗和N面抛光等。 | ||
搜索关键词: | 半导体激光器 芯片 清洗 抛光 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体激光器芯片P面清洗和N面抛光方法,其特征在于包括真空泵1,抽气管11,高速旋转真空载台2,防护罩21,承片盘22,转速显示23,电源开关24,低速运转时间25,低速调节钮26,高速调节钮27,高速运转时间28,启动键29,吸片键210,超声雾化器3,波纹管31,定时旋钮32,电源键33,雾量调节钮34。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造