[发明专利]单元像素、光电检测装置及使用其测量距离的方法有效
申请号: | 201110229101.2 | 申请日: | 2011-08-11 |
公开(公告)号: | CN102376728A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | E.R.福萨姆;朴允童 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L27/148;H01L31/0352;H01L31/0224;G01B11/14 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 李昕巍 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及单元像素、光电检测装置及使用其测量距离的方法。一种包括在光电检测装置中的单元像素包括:在半导体衬底中的浮置扩散区、在半导体衬底上方的环形收集栅、在半导体衬底上方的环形排放栅和在半导体衬底中的排出区,其中收集栅和排放栅分别布置在浮置扩散区和排出区之间。 | ||
搜索关键词: | 单元 像素 光电 检测 装置 使用 测量 距离 方法 | ||
【主权项】:
一种单元像素,包括在光电检测装置中,该单元像素包括:浮置扩散区,在半导体衬底中;环形收集栅,在所述半导体衬底上方;环形排放栅,在所述半导体衬底上方;和排出区,在所述半导体衬底中,其中所述收集栅和所述排放栅分别布置在所述浮置扩散区和所述排出区之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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