[发明专利]一种连接插针的基材成分分析方法无效
| 申请号： | 201110229957.X | 申请日： | 2011-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN102411010A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 闫武杰 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种连接插针的基材成分分析方法，该方法包括以下步骤：A、将插针样品用环氧树脂进行固封；B、将固封好的插针样品进行研磨、抛光、清洗；C、使用扫描电子显微镜和能谱仪对清洗后的插针样品进行分析，得出基材成分含量和比例。本发明带来的有益效果是：本发明方法可以测量金属插针内的微量元素，测量精度比较高；本发明方法可以不受金属插针表面镀层的影响，对基材成分进行有效地分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 连接 基材 成分 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种连接插针的基材成分分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：A、将插针样品用环氧树脂进行固封；B、将固封好的插针样品进行研磨、抛光、清洗；C、使用扫描电子显微镜和能谱仪对清洗后的插针样品进行分析，得出基材成分含量和比例。
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