[发明专利]测试和测量仪器中的时域测量有效
| 申请号： | 201110239040.8 | 申请日： | 2011-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN102419389A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | K·P·多比恩斯;G·J·沃尔多 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R13/00 | 分类号： | G01R13/00;G01R23/02;G01R25/00;G01R21/133 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 俞华梁;王忠忠 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的名称为测试和测量仪器中的时域测量。测试和测量仪器及方法用于接收射频(RF)信号，使用模数转换器将RF信号数字化，对数字化信号进行下变频以产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息，使用I和Q基带分量信息来生成一个或多个基于IQ的时域轨迹，以及测量和显示基于IQ的时域轨迹的各种测量值。基于IQ的时域测量值能够自动生成和显示和/或传送给外部装置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 测量 仪器 中的 时域 | ||
【主权项】：
一种测试和测量仪器，包括：输入端子，接收被测电信号；模数转换器(ADC)，将被测信号数字化；数字下变频器，从数字化信号来产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息；轨迹生成部分，使用所述I和Q基带分量信息来生成一个或多个基于IQ的时域轨迹；以及测量部分，产生与所述一个或多个基于IQ的时域轨迹的属性对应的一个或多个测量值。
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