[发明专利]测试和测量仪器中的时域搜索在审
申请号: | 201110239050.1 | 申请日: | 2011-08-11 |
公开(公告)号: | CN102932287A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | K·P·多比恩斯;G·J·沃尔多 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | H04L25/02 | 分类号: | H04L25/02;H04L25/03;H04B17/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 俞华梁;王忠忠 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的名称为测试和测量仪器中的时域搜索。本发明的实施例包括用于搜索基于IQ的时域轨迹的事件、标记事件并且分析测试和测量仪器的显示单元上的事件处或附近的感兴趣间隔的装置和方法。测试和测量仪器能够包括接收RF信号的输入端子、将RF信号数字化的ADC、从数字化RF信号来产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息的数字下变频器、获取和存储记录的获取存储器、生成一个或多个基于IQ的时域轨迹的轨迹生成部分以及扫描基于IQ的时域轨迹的一个或多个事件的搜索单元。搜索单元能够定位和标记事件供在测试和测量仪器的显示单元上显示。 | ||
搜索关键词: | 测试 测量 仪器 中的 时域 搜索 | ||
【主权项】:
一种测试和测量仪器,包括:输入端子,接收被测电信号;模数转换器(ADC),将被测信号数字化;数字下变频器,从数字化信号来产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息;获取存储器,存储与数字化信号关联的数字化I和Q基带分量信息的一个或多个记录;轨迹生成部分,使用I或Q基带分量信息来生成一个或多个轨迹;以及搜索单元,扫描所述一个或多个轨迹的一个或多个事件。
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