[发明专利]荧光检查设备及其降低荧光检查剂量的方法有效
| 申请号： | 201110241199.3 | 申请日： | 2011-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN102949193A | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 向军;骆志坚 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 骆希聪 |
| 地址： | 201821 上海市嘉定区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种降低荧光检查剂量的方法，可根据受检者的体型设置初始剂量，使之更接近目标剂量。该方法包括以下步骤：测量受检者的厚度；根据一检查剂量-受检者厚度关系曲线，确定该受检者的初始检查剂量；依据该初始检查剂量发射X射线，对受检者进行检查；以及根据所获得的受检者图像，调整检查剂量，对受检者再次进行检查，直到获得可接受的受检者图像。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 检查 设备 及其 降低 剂量 方法 | ||
【主权项】：
一种降低荧光检查剂量的方法，适用于一荧光检查设备，该方法包括以下步骤：测量受检者的厚度；根据一检查剂量‑受检者厚度关系曲线，确定该受检者的初始检查剂量；依据该初始检查剂量发射X射线，对受检者进行检查；以及根据所获得的受检者图像，调整检查剂量，对受检者再次进行检查，直到获得可接受的受检者图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技有限公司，未经上海联影医疗科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110241199.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
