[发明专利]用于测量结构的系统和方法有效
| 申请号： | 201110241728.X | 申请日： | 2011-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN102954777A | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 凯西·范斯坦;孙国华;约瑟夫·克莱顿 | 申请（专利权）人： | 苹果公司 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02;G01B21/30 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宗晓斌 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于测量结构的系统和方法。用于测量一结构的系统包括：支撑固定装置，其包括当所述结构被装载在所述支撑固定装置上时与所述结构的下表面接触的支撑腿；以及传感器阵列，其包括多个传感器，用于在所述结构不被装载在所述支撑固定装置上的情况下测量所述支撑腿的高度作为基准高度，并且在所述结构被装载在所述支撑固定装置上时测量所述结构上预定位置处的高度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 结构 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量一结构的系统，包括：支撑固定装置，其包括当所述结构被装载在所述支撑固定装置上时与所述结构的下表面接触的支撑腿；以及传感器阵列，其包括多个传感器，用于在所述结构不被装载在所述支撑固定装置上的情况下测量所述支撑腿的高度作为基准高度，并且在所述结构被装载在所述支撑固定装置上时测量所述结构上预定位置处的高度。
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