[发明专利]一种盘条中心偏析的定量检验方法

摘要

本发明公开一种盘条中心偏析的定量检验方法，取长盘条试样两块，将一块盘条试样横截面磨平，将另一块试样沿盘条纵向约2/3处剖开，将较大试样的剖面磨平，将上述两个磨平的平面紧挨着放在同一平面并用导电树脂镶嵌，磨制试样，当盘条试样纵向剖面的宽度等于另一盘条试样直径时，抛光该平面，用硝酸酒精溶液腐蚀试样。在偏析最严重处划线作为记号，再将试样进行抛光处理。将试样放入电子探针分析仪，用二次电子像找到所作记号，利用元素的特征X射线的波谱分析对试样全宽度进行碳、锰元素X射线强度线分析测量，用曲线记录下来，测量时加速电压选择10-20kV，电子束流选择100nA以上，束斑尺寸选择20-50μm；同样的试验条件测试所分析元素的标准试样X射线强度，将曲线中的X射线强度换算成浓度含量，从曲线上得出浓度最大值和平均值，求取中心偏析率＝最大值/平均值×100％。

主权项

一种盘条中心偏析的定量检验方法，其特征在于包括如下步骤：1)中心定位：取长盘条试样两块，将一块盘条试样横截面磨平，将另一块试样沿盘条纵向约2/3处剖开，将较大试样的剖面磨平，将上述两个磨平的平面紧挨着放在同一平面并用导电树脂镶嵌，磨制试样，当所剖开的盘条试样的纵向剖面宽度等于另一盘条试样直径时，抛光该平面，用硝酸酒精溶液腐蚀试样，在偏析最严重处划线作为记号，再将试样进行抛光处理；2)中心偏析的定量评价：将试样放入电子探针分析仪，用二次电子像找到所作记号，利用元素的特征X射线的波谱分析对试样全宽度进行碳、锰元素X射线强度线分析测量，用曲线记录下来，测量时加速电压选择10‑20kV，电子束流选择100nA以上，束斑尺寸选择20‑50μm；同样的试验条件测试所分析元素的标准试样X射线强度，将曲线中的X射线强度换算成浓度含量，从曲线上得出浓度最大值和平均值，求取中心偏析率＝最大值/平均值×100％。