[发明专利]封装材料的水汽透过率测试方法无效
申请号: | 201110243735.3 | 申请日: | 2011-08-24 |
公开(公告)号: | CN102445438A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 张浩;廖英杰;刘记忠;龙梨;魏斌;冯涛;桑仁政;张建华 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N15/08;G01N1/28 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种封装材料的水汽透过率测试方法,根据由封装材料封闭形成的空腔内的有机电致发光材料与水汽发生化学反应前后光致发光光谱随时间的变化,将光致发光光谱的积分强度随时间的变化换算成封装材料的水汽透过率。可以有效测量OLED的器件的水汽透过率,能实现对传统的OLED和柔性OLED的封装特性进行测量,测量精度可下探到1×10-6g/m2/day以下,可以更灵敏、精确、快速检测和判断封装材料层的水汽透过率,本方法操作便捷,测量成本低,易于实现自动化在线检测,实用性强。 | ||
搜索关键词: | 封装 材料 水汽 透过 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种封装材料的水汽透过率测试方法,其特征在于:根据由封装材料封闭形成的空腔内的有机电致发光材料与水汽发生化学反应前后光致发光光谱随时间的的变化,将光致发光光谱的积分强度随时间的变化换算成封装材料的水汽透过率,所述封装材料的水汽透过率测试方法的步骤如下:a. 将ITO刚性基板(1)洗净,烘干,并置于密闭的干燥室中;b. 在所述ITO刚性基板(1)的ITO薄膜表面上制备有机电致发光材料层(2);c.在所述有机电致发光材料层(2)上制备金属电极层(3);d.将所述步骤a至c中的各结构层封装在至少由所述ITO刚性基板(1)和封装材料层构成的密封罩内,形成发光器件单元;e.将发光器件单元从密闭的干燥室中取出并置于空气中,对所述发光器件单元的光致光谱进行首次测量并开始计时,获得所述发光器件单元的光致光谱曲线数据;f.间隔固定的时间t对发光器件单元的光致光谱进行测量,获得所述发光器件单元的光致光谱曲线数据;g.将所述步骤e至f中所获得所述发光器件单元的光致光谱曲线数据输入计算模块,所述计算模块将光致发光光谱曲线数据的变化换算成封装材料的水汽透过率,具体算法如下:将定义为所述封装材料层的厚度,将定义为所述步骤e中对发光器件单元进行首次测试的光致光谱的强度,则对所述发光器件单元进行首次测试的光致光谱在整个光致光谱波长n的范围内的积分强度为,将定义为在间隔固定的时间t后对所述发光器件单元进行再次测试的光致光谱的强度,则在间隔固定的时间t的时间点上对所述发光器件单元进行再次测试的光致光谱在整个光致光谱波长n的范围内的积分强度为,采用归一化数据预处理技术对所述步骤e中的光致光谱的强度进行处理,获得所述单位时间单位面积上已与水汽发生化学反应的有机材料的厚度,其计算公式如下:假设所述ITO刚性基板(1)的水汽透过率为0,根据水的分子量和有机电致发光材料的平均分子量,将所述步骤e中的发光器件单元的光致光谱曲线数据经过换算、修正,得到单位面积上t小时内封装材料的水汽透过率,水汽透过率的数据修正根据有机电致发光材料种类不同而采用水汽透过率系数修正方式,其具体计算公式如下:。
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