[发明专利]一种星载DSP芯片的空间单粒子翻转检测方法

摘要

一种星载DSP芯片的空间单粒子翻转检测方法，步骤为：将DSP芯片程序区中的内容分段进行32bits校验，将校验结果存入DSP芯片的三段数据区中，之后将芯片进行固化。DSP上电程序运行后，在CPU运行过程中通过DMA控制器将程序区中的内容分段搬移到数据区中，CPU在空闲周期对搬移完成的该分段数据进行32bits的校验计算；将计算的结果和数据区中事先存入的校验值的三模冗余判决结果进行比对，从而得知DSP程序区的内容是否发生了单粒子翻转现象。本发明方法通过DSP程序本身实现对芯片内部单粒子翻转现象的自检测，采用DMA控制器对数据进行搬移，并对程序区内容进行分段校验，减少了占用CPU的运行时间和程序代码开销。

主权项

一种星载DSP芯片的空间单粒子翻转检测方法，其特征在于：所述DSP芯片中包括数据区、程序区、CPU和DMA控制器，所述星载DSP芯片的空间单粒子翻转自检测方法的步骤如下：(1)对DSP芯片中程序区存储的内容进行分段，再对每一段内容进行32bits校验；(2)在DSP芯片中的数据区开辟三段数据存储空间，将步骤(1)中所述对每一段内容进行的32bits校验的结果同时存入所述三处数据存储空间中，然后将DSP芯片的程序代码固化到DSP芯片外的PROM或FLASH中；(3)当DSP芯片复位后，即DSP芯片开始工作，通过DMA控制器将DSP芯片外的PROM或FLASH中的所述DSP芯片的程序代码加载到DSP芯片内程序区中；(4)通过DMA控制器将程序区的内容分段搬移到数据区内，每次搬移一段程序区内容；(5)当DMA控制器对一段程序区内容的搬移操作完成后，则对数据区中该段程序区内容进行32bits校验；(6)对步骤(2)中数据区中存储的步骤(5)中所述一段程序区内容所对应的三个校验结果进行三模冗余表决；(7)将步骤(5)中的校验结果与步骤(6)中的三模冗余表决结果进行比对，如果两者不相等，则认为程序区发生了单粒子翻转。