[发明专利]一种制备铌酸锂表面图形的方法无效

专利信息
申请号: 201110245639.2 申请日: 2011-08-25
公开(公告)号: CN102304767A 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 郑婉华;齐爱谊;王海玲;渠红伟 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C30B33/12 分类号: C30B33/12;H01L21/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种制备铌酸锂表面图形的方法,该方法包括:在铌酸锂衬底表面制作掩膜图形;采用氟基等离子对铌酸锂衬底进行干法刻蚀,以刻蚀铌酸锂;采用氧等离子对铌酸锂衬底进行刻蚀,以刻蚀在铌酸锂表面形成的氟化锂;重复上述采用氟基等离子及氧等离子的刻蚀步骤,直至完成铌酸锂表面图形的制备。利用本发明,解决了氟基等离子刻蚀铌酸锂时表面再沉积氟化锂的问题,达到制备大深度、底面光滑铌酸锂表面图形的目的。本方法简单易用,可以用于铌酸锂的刻蚀,获得大深度、底面光滑的铌酸锂表面图形。
搜索关键词: 一种 制备 铌酸锂 表面 图形 方法
【主权项】:
一种制备铌酸锂表面图形的方法,其特征在于,该方法包括:在铌酸锂衬底表面制作掩膜图形;采用氟基等离子对铌酸锂衬底进行干法刻蚀,以刻蚀铌酸锂;采用氧等离子对铌酸锂衬底进行刻蚀,以刻蚀在铌酸锂表面形成的氟化锂;重复上述采用氟基等离子及氧等离子的刻蚀步骤,直至完成铌酸锂表面图形的制备。
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