[发明专利]一种多个结构光投影三维型面测量头的标定技术

摘要

一种多个结构光投影三维型面测量头的标定技术发明公开了一种对多个不同方位的结构光投影三维型面测量头进行标定的技术，可用于结构光投影的物体型面的快速无标贴测量，属于光学测量技术领域。该发明只需设计具有多个标定图案的平面的标定物，无需制作成高精度的各面几何关系已知的立体靶标，通过近景摄影测量技术可求得标定物各平面之间的几何参数，将其升级为了立体靶标，减少了直接加工和维护高精度立体靶标的难度。利用该技术能使多个结构光投影三维型面测量头实现从不同视角的免标贴测量，自动实现不同方位扫描得到的点云统一到一个坐标系下，不仅有效的避免了拼接带来的误差累积，而且能缩短对物体全貌三维重建的时间。

主权项

本专利是针对多个不同视角的结构光投影三维型面测量头对待测物进行同时测量时所设计的一种多个结构光投影三维型面测量头的标定技术，其特征在于所述方法包括如下步骤： 设计具有多个平面构成的立体标定物，标定物各面之间的几何参数关系未知，利用近景摄影测量技术可以求得各平面的几何参数关系，将标定物升级为一个立体靶标；根据被测物体的特征及测量要求，放入立体靶标，摆放好多个测量头，使立体靶标的多个标定平面正对多个测量头进行标定，根据已经求得的立体靶标各平面的几何参数关系可以求得各测量头坐标系之间的坐标转换关系。