[发明专利]测试元件，测试试剂盒，测试装置和测试方法有效
| 申请号： | 201110252145.7 | 申请日： | 2011-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN102435600A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 东野一郎;和田嵩辉;大宫可容子;葛西晋吾;平川雅章 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01N21/78 | 分类号： | G01N21/78;G01N21/82 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 罗菊华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及测试元件，测试试剂盒，测试装置和测试方法。根据一个实施方式，所述测试元件包括：基板，一对光学元件单元，光波导单元，检测单元和保持单元。基板具有透光性。一对光学元件单元彼此分开排列在基板主表面。光波导单元设置于基板主表面。检测单元设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面。光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧。保持单元是框架形状，且保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出。检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 元件 试剂盒 装置 方法 | ||
【主权项】：
测试元件，其包括：具有透光性的基板；一对光学元件单元，其彼此分开排列在基板主表面；光波导单元，其设置于基板主表面；检测单元，其设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面，光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧；以及框架形状的保持单元，所述保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出，检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。
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