[发明专利]一种煤矿瓦斯浓度的光学测量方法无效

专利信息
申请号: 201110253382.5 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN102305775A 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 郭长立 申请(专利权)人: 西安科技大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 罗笛
地址: 710054 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种煤矿瓦斯浓度的光学测量方法,该方法依赖一套光学测量装置,并按照以下步骤实施:使待测气体均匀充满气体室;利用氦氖激光源发出激光,经光学平面玻璃上表面镀的半透膜A反射的光和牛顿环镜片的全反膜反射的光是相干光,以上两束反射光产生牛顿环干涉图样,通过读数显微镜测量干涉条纹的暗环级数k,同时测量第k级暗环对应的直径Dk,采用多次测量的方法,多个暗环,并测出对应暗环的直径值;采用逐差法处理数据,需同时再测出多个暗环的直径值;将以上测得的数据通过公式计算,即得待测气体中甲烷浓度x。本发明方法基于牛顿环等厚干涉原理,方法简单,更适合煤矿井下的恶劣工作条件。
搜索关键词: 一种 煤矿 瓦斯 浓度 光学 测量方法
【主权项】:
1.一种煤矿瓦斯浓度的光学测量方法,其特征在于,该方法依赖一套装置,该装置的结构是,包括气体室(10),气体室(10)的下端通过螺纹套装在安装座(8)上,安装座(8)内腔底面上设有一圆形凹槽(9),气体室(10)的上端通过螺纹套装有外保护体(4),外保护体(4)的上端安装有上保护盖(2),上保护盖(2)沿轴心开有圆口(3),沿圆口(3)的轴心上方设置有与水平面呈45度夹角的反射镜(22),反射镜(22)的下表面镀有半透膜B(23),反射镜(22)的上方设置有读数显微镜(24),反射镜(22)的水平入射方向设置有氦氖激光源(1);气体室(10)的上端口粘接有光学平面玻璃(20),光学平面玻璃(20)上表面镀有半透膜A(21);气体室(10)的下端口粘接有牛顿环镜片(7),牛顿环镜片(7)的上表面为凸面且镀有全反膜(13),牛顿环镜片(7)的下表面为平面;本发明的煤矿瓦斯浓度的光学测量方法,利用上述装置,按照以下步骤实施:步骤1、打开密封塞A(6)和密封塞B(15),使煤矿井下的待测气体进入气体室(10);步骤2、等待3-10分钟时间,使待测气体均匀充满气体室(10);步骤3、利用氦氖激光源(1)发出激光,入射激光经反射镜(22)反射后垂直入射到光学平面玻璃(20)上表面镀的半透膜A(21)上,一部分光被反射,一部分光透过光学平面玻璃(20)向下入射到牛顿环镜片(7)的全反膜(13)上并被全反射,经光学平面玻璃(20)上表面镀的半透膜A(21)反射的光和牛顿环镜片(7)的全反膜(13)反射的光是相干光,以上两束反射光产生牛顿环干涉图样,通过读数显微镜(24)测量干涉条纹的暗环级数k,同时测量第k级暗环对应的直径Dk,采用多次测量的方法,k值取k+1,k+2,k+3,k+4,k+5,k+6,…多个暗环,并测出对应暗环的直径值;采用逐差法处理数据,m为一恒定整数,需同时再测出k+m+1,k+m+2,k+m+3,k+m+4,k+m+5,k+m+6,…多个暗环的直径值;将以上测得的数据通过公式计算,其中Dk+m是第k+m级暗环对应的直径,R为牛顿环镜片的曲率半径,是已知常数,即得待测气体中甲烷浓度x,也即瓦斯气体的浓度x。
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