[发明专利]一种“光子计数全谱直读”光谱分析方法无效
| 申请号： | 201110255580.5 | 申请日： | 2011-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN102353450A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 缪震华;赖胜波;刘敏敏;尹延静;杨萍 | 申请（专利权）人： | 深圳市世纪天源环保技术有限公司;缪震华 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 陈慧珍 |
| 地址： | 518038 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种“光子计数全谱直读”光谱分析方法，包括以下步骤：样品在激发源的作用下产生待观测的特征光谱；夹杂特征光谱的复合光经入射光学装置入射到分光系统；分光系统将入射的复合光色散成单色的光谱图像；光谱图像成像于光子计数成像探测器的敏感面上；光子计数成像探测器通过“位敏探测”和“光子计数”以数字化的方式重构光谱图像；信息处理与显示单元根据数字光谱图像中每一像元的位置和信号强度对样品进行定性定量分析。该光谱分析方法具有检出限低、读数精度高、数据稳定性高以及线性动态范围大等优点，并可“全谱直读”，即可同时分析多种物质成分、可充分利用工作波长范围内的每一条谱线、工作速度快、以及相应的仪器结构简单、运行稳定性高、生产运行成本低、升级调校方便等。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光子 计数 直读 光谱分析 方法 | ||
【主权项】：
一种“光子计数全谱直读”光谱分析方法，其特征在于：包括但不限于以下步骤，S100.样品经前期预处理后在激发源(1)的作用下产生待观测的特征光谱；S200.夹杂特征光谱的复合光经入射光学装置入射到分光系统(2)；S300.分光系统(2)将入射的复合光色散成单色的光谱图像；S400.光谱图像经出射光学装置成像于光子计数成像探测器(3)的敏感面上；S500.光子计数成像探测器(3)通过“位敏探测”和“光子计数”，以数字化的方式重构光谱图像；S600.信息处理与显示单元(4)根据数字光谱图像中每一像元的位置和信号强度对样品进行定性定量分析。
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