[发明专利]带反型隔离层结构的金属半导体场效应晶体管及制作方法有效

专利信息
申请号: 201110257575.8 申请日: 2011-09-01
公开(公告)号: CN102339868A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 柴常春;宋坤;杨银堂;贾护军 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/812 分类号: H01L29/812;H01L29/06;H01L29/10;H01L21/338;H01L21/265
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 田文英;王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种应用于微波射频电路的带反型隔离层结构的金属半导体场效应晶体管及制作方法,晶体管包括半绝缘衬底、缓冲层、沟道层与依次形成于沟道层之上的反型隔离层、源极帽层、漏极帽层以及源、漏、栅电极。其制作过程是:在半绝缘衬底上依次生长同质P型的缓冲层和同质N型的沟道层。在沟道层上生长同质P型的反型隔离层。对反型隔离层两端对应于源电极和漏电极位置的区域进行高浓度N型离子注入,形成源极帽层和漏极帽层。刻蚀掉反型隔离层对应于栅电极位置的部分,形成一个凹槽,使沟道层露出于表面。在源极帽层、漏极帽层上制作源电极和漏电极,在凹槽内的沟道层上制作栅电极。本发明的晶体管能提高微波射频电路的功率密度和增益。
搜索关键词: 带反型 隔离 结构 金属 半导体 场效应 晶体管 制作方法
【主权项】:
带反型隔离层结构的金属半导体场效应晶体管,包括半绝缘衬底、缓冲层、沟道层、反型隔离层、源极帽层、漏极帽层、源电极、漏电极和栅电极,其特征在于,所述半绝缘衬底之上依次形成缓冲层、沟道层;沟道层之上依次形成反型隔离层、源极帽层、漏极帽层;反型隔离层中形成一个与栅电极长度相等的凹槽,凹槽深至沟道层的上表面;源电极、漏电极分别形成于源极帽层、漏极帽层之上;栅电极形成于凹槽内的沟道层之上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110257575.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top