[发明专利]用于评估涂层的热成像方法和设备无效
| 申请号： | 201110257754.1 | 申请日： | 2011-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN102445155A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | H·I·林格马赫;D·R·霍华德;B·E·奈特 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01N25/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 柯广华;朱海煜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明名称为“用于评估涂层的热成像方法和设备”。提供一种设备，用于部分地使用能够在涂层表面生成热脉冲的闪光灯源以及能够捕获涂层表面的顺序图像帧的图像捕获和处理装置来确定衬底表面上的涂层的可变厚度，而每个顺序图像帧对应于经过时间并包括像素阵列，并且其中，阵列的各像素对应于涂层表面上的位置。还提供一种计算涂层厚度的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 评估 涂层 成像 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于确定布置在衬底(1)上的涂层(4)的可变厚度的设备，所述设备包括：闪光灯源(11)，能够在所述涂层表面处生成热脉冲；光触发器，耦合到所述闪光灯源，并且能够发起所述闪光灯激发；晶体管，耦合到所述闪光灯源，并且能够熄灭所述热脉冲；反射滤光器(18)，定位在所述闪光灯源(11)与所述涂层表面(4)之间，能够防止来自所述闪光灯的剩余热加热所述涂层表面；IR图像捕获装置(13)，定位成捕获所述涂层表面的顺序图像帧，而每个顺序图像帧对应于经过时间并包括像素阵列，并且其中，所述阵列的各像素对应于所述涂层表面上的位置；处理器(16)，耦合到所述IR图像捕获装置，能够执行下列步骤：控制所述光触发器和晶体管的操作；在发起所述闪光灯激发时及以后顺序地接收所述涂层表面的所述图像帧；以及部分地使用所述顺序图像帧计算时间‑温度响应，来确定沿所述衬底(1)的多个点处的所述涂层的所述厚度。
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