[发明专利]一次性可编程存储单元阵列及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110258026.2 申请日: 2011-09-02
公开(公告)号: CN102361030A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: 梁擎擎;朱慧珑;钟汇才 申请(专利权)人: 长沙艾尔丰华电子科技有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;H01L21/8246
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 李娜
地址: 410100 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一次性可编程存储单元阵列及其制造方法。该存储单元阵列,包括:形成在支撑衬底上的绝缘层;形成在所述绝缘层上的导电材料层的多个相互分离的条形部分;形成在所述导电材料层的多个相互分离的条形部分上以及所述条形部分之间的所述绝缘层的部分上的电介质层;以及形成在所述电介质层上的与所述导电材料层的多个相互分离的条形部分垂直的多晶硅或多晶硅锗层的多个相互分离的条形部分,所述导电材料层的每一个所述条形部分与所述多晶硅或多晶硅锗层的每一个所述条形部分的重叠之处形成有一个存储单元。
搜索关键词: 一次性 可编程 存储 单元 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
一种一次性可编程存储单元阵列,包括:形成在支撑衬底上的绝缘层;形成在所述绝缘层上的导电材料层的多个相互分离的条形部分;形成在所述导电材料层的多个相互分离的条形部分上以及所述条形部分之间的所述绝缘层的部分上的电介质层;以及形成在所述电介质层上的与所述导电材料层的多个相互分离的条形部分垂直的多晶硅或多晶硅锗层的多个相互分离的条形部分,所述导电材料层的每一个所述条形部分与所述多晶硅或多晶硅锗层的每一个所述条形部分的重叠之处形成有一个存储单元。
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