[发明专利]光学三维测量设备精度综合检测方法及检测装置

摘要

光学三维测量设备精度综合检测方法及检测装置，解决三维测量设备的球面度、球体空间和平面度检测精度的检测问题，采用的方案是，球面度精度检测，利用由单个球体构成的标准单球规，球体空间精度检测，利用由两个球心距离固定的球体构成的标准双球规，平面度检测，利用标准平面规，检测结构与标定值做差实现设备的精度综合检测。检测装置包括支撑底座和一组高度不同的量规支架，支撑底座与量规支架固定，量规支架在测量空间内支撑量规。其优点是，检测方法简单，可靠，检测时间短，检测装置结构简单，使用、安装调整方便。

主权项

1.光学三维测量设备精度综合检测方法，该检测方法包括：球面度精度检测、球体空间精度检测和平面度检测，其特征在于：A、所述的球面度精度检测，利用由单个球体构成的标准单球规，标准单球规球圆度小于三维测量设备设定测量精度的1/5，球直径为（0.1～0.2）×三维测量设备测量空间长方体的体对角线长度，在测量空间内的十个位置空间分别固定设置标准单球规，三维测量设备分别对标准单球规进行测量，每次获得大于3000点的稠密点云数据，利用最小二乘方法拟合出球面，通过计算点到球面的径向偏差与标准单球规标定值做差，计算得到三维测量设备球面度测量误差值；B、所述的球体空间精度检测，利用由两个球心距离固定的球体构成的标准双球规，标准双球规的球心间距为≥0.3三维测量设备测量空间长方体的体对角线长度，球直径=（0.1～0.2）×三维测量设备测量空间长方体的体对角线长度，在测量空间内的四个体对角线上和测量空间内的上下和垂直面上按三维坐标的Ｘ、Ｙ和Ｚ轴方向设置七个标准双球规，三维测量设备分别对标准双球规进行测量，每次获得大于3000点的稠密点云数据，利用最小二乘方法拟合出球心，测量获得的两个球心的距离与标定过的标准双球规的值做差，计算得三维测量设备球空间的测量误差值；Ｃ、所述的平面度检测，利用宽度大于为50mm，长度大于0.5×测量空间长方体的体对角线长度，平面精度小于三维测量设备精度设定值的1/5的标准平面规，在测量空间内上下面的对角线上、在测量空间内其中一个体对角线上和测量空间内的三个不同高度上，共计设置六个标准平面规，三维测量设备分别对平面规进行测量，每次获得大于3000点的稠密点云数据，利用最小二乘方法拟合出平面，计算测量获得的点云数据拟合平面与标定的标准平面规的值做差，计算的三维测量设备平面度测量值误差。