[发明专利]检测存储器中连接缺陷的方法与可检测连接缺陷的存储器有效
| 申请号： | 201110259755.X | 申请日： | 2011-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN102354534A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 张敏芝;王释兴;余德益;杨连圣 | 申请（专利权）人： | 钰创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 通过输入电压至存储器内包括的广域字线，并检测广域字线上对应产生的电流，可产生电流与电压的关系函数，并且可根据关系函数的偏离幅度或斜率判断广域字线是否具有连接缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 存储器 连接 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
一种检测存储器中连接缺陷的方法，该存储器包括多条第一广域字线及多条第二广域字线，该方法包括：于一第一时间点，对每一该多条第一广域字线提供多个相异的第一电压，其中每一该第一电压是同时提供给该多条第一广域字线；于该第一时间点，对该多条第二广域字线提供一第二电压；当该多条第一广域字线被提供该多个第一电压时，测量每一该多条第一广域字线的多个第一电流；及根据该多个第一电流与该多个第一电压的关系，判断该多条第一广域字线是否具有连接缺陷。
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