[发明专利]一种超光谱成像仪谱面或焦面的装调方法无效
| 申请号： | 201110262490.9 | 申请日： | 2011-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN102419207A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | 高志良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 陶尊新 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种超光谱成像仪谱面或焦面的装调方法，涉及成像光学系统领域，它解决现有超光谱仪成像系统的装调过程复杂并且不能准确对CCD焦面组件位置调整，频繁操作CCD焦面组件装拆，容易导致CCD器件损坏的问题，将标定好的焦面装调模块中的亮背景分划板刻线面的位置等效CCD焦面组件的CCD感光面，采用装调模块替代CCD焦面组件进行光学系统的调试，使用显微镜观察相机投射到分划板上信息，修磨CCD焦面组件调整垫使谱线与分划板刻线面重合。将CCD焦面组件与修磨后的CCD焦面组件调整垫配合安装，用CCD焦面组件替换装调模块，精调CCD焦面位置。本方法减少CCD焦面组件装调过程中的频繁操作，提高装调质量和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 成像 仪谱面 方法 | ||
【主权项】：
一种超光谱成像仪谱面或焦面的装调方法，其特征是，该方法由以下步骤实现：步骤一、调整焦面装调模块(5)到超光谱成像仪(7)像面的距离与CCD焦面组件(6)基准面到超光谱成像仪(7)沿像面法线方向的距离相等，所述焦面装调模块(5)内的分划板(1)上的刻线与CCD焦面组件(6)中CCD感光面(12)重合；步骤二、将步骤一所述的焦面装调模块(5)通过CCD焦面组件调整垫(3)安装到超光谱成像仪(7)的基准面上，调整焦面装调模块(5)在焦平面的子午方向和弧矢方向的位置，同时采用显微镜(4)测量超光谱成像仪(7)谱线位置与焦面装调模块(5)内的分划板(4)刻线面的位置是否重合，如果是，则执行步骤四，如果否，则执行步骤三；步骤三、调整焦面装调模块(5)在焦平面的子午方向和弧矢方向的位置，同时移动显微镜(4)进行多点测量，采用数显千分表(10)显示测量的修磨角量值，根据修磨角量值修磨CCD焦面组件调整垫(3)，直到超光谱成像仪(7)的谱线位置与焦面装调模块(5)内的分划板(1)的刻线面重合；步骤四、使用定位块(9)将焦面装调模块(5)靠接，然后将焦面装调模块(5)从CCD焦面组件调整垫(3)上取下，将CCD焦面组件(6)安装到所述CCD焦面组件调整垫(3)上并与定位块(9)靠接；将CCD焦面组件(6)固定在超光谱成像仪(7)的基准面上，取下定位块(9)，装调完成。
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