[发明专利]一种工件外观缺陷检测装置及其检测方法有效
申请号: | 201110262649.7 | 申请日: | 2011-09-06 |
公开(公告)号: | CN102288616A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
发明(设计)人: | 何金洲;周寿林 | 申请(专利权)人: | 成都银河磁体股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人: | 王芸;熊晓果 |
地址: | 611731 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种工件外观缺陷检测装置及其检测方法,属于工件外观缺陷检测技术领域,包括检测平台,以及影像系统,所述影像系统包括辅助光源、成像光学镜组和摄像头,所述摄像头与带有图像采集系统的计算机连接,所述检测平台包括透明水平旋转工作台;所述影像系统包括上影像系统和下影像系统,其中,上影像系统位于检测平台的斜上方,下影像系统位于透明旋转工作台的下方;本发明结构简单、便于操作、而且检测效率高;本发明尤其适用于大批量生产的环形工件所有表面的外观检测场合。 | ||
搜索关键词: | 一种 工件 外观 缺陷 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种工件外观缺陷检测装置,包括检测平台,以及影像系统,所述影像系统包括辅助光源、成像光学镜组和摄像头,所述摄像头与带有图像采集系统的计算机连接,其特征在于,所述检测平台包括透明水平旋转工作台;所述影像系统包括上影像系统和下影像系统,其中,上影像系统位于检测平台的斜上方,下影像系统位于透明水平旋转工作台的下方。
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