[发明专利]测量方位角的装置及方法有效
| 申请号： | 201110264016.X | 申请日： | 2011-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102322845A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 贺鹏 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及一种测量方位角的装置及方法，装置包括磁性传感器，其中，磁性传感器用于测量同一方向上至少两个地理位置上的磁信号；方位角测量装置还包括：信号调理及模数A/D转换单元、微控制器。通过微控制器对测得的多个磁信号的差值得到干扰磁信号的方向，并以此对测量的磁信号进行校准，进而利用校准的磁信号计算方位角，避免了测量方位角时的旋转操作，简化了方位角校准的操作，提高了测量的抗干扰性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 方位角 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量方位角的装置，包括磁性传感器，其特征在于，所述磁性传感器用于测量同一方向上至少两个地理位置上的磁信号；所述方位角测量装置还包括：信号调理及模数A/D转换单元，与所述磁性传感器相连，用于对所述磁性传感器测量的至少两个磁信号进行A/D转换，得到所述至少两个磁信号的A/D采样数据；微控制器，与所述信号调理及A/D转换单元相连，用于采用所述至少两个磁信号的A/D采样数据的差值对所述至少两个磁信号中的任一个磁信号的A/D采样数据进行校准，利用校准后的A/D采样数据计算方位角。
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