[发明专利]通过随机存取存储器芯片地址引脚检测缺陷的测试方法有效
| 申请号： | 201110264782.6 | 申请日： | 2011-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN103000226A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 叶均 | 申请（专利权）人： | 施耐德电器工业公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 法国吕埃*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明提供一种通过随机存取存储器RAM芯片地址引脚检测缺陷的测试方法，包括：向数量等于RAM芯片地址总线位数增加一、地址为全零以及地址为各条地址总线依次唯一地为1且其余地址总线为0的、特定的RAM存储单元写入相应的彼此不同的数据；读出所述特定的RAM存储单元中的对应数据，形成结果数组；确定结果数组中是否存在相同的元素；如果结果数组中存在相同的元素，则判断RAM芯片引脚存在布线缺陷；如果结果数组中不存在相同的元素，则判断RAM芯片地址引脚不存在布线缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 随机存取存储器 芯片 地址 引脚 检测 缺陷 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种通过随机存取存储器RAM芯片地址引脚检测缺陷的测试方法，其特征在于包括：向数量等于RAM芯片地址总线位数增加一、地址为全零以及地址为各条地址总线依次唯一地为1且其余地址总线为0的、特定的RAM存储单元写入相应的彼此不同的数据；读出所述特定的RAM存储单元中的对应数据，形成结果数组；确定结果数组中是否存在相同的元素；以及如果结果数组中存在相同的元素，则判断RAM芯片引脚存在布线缺陷；如果结果数组中不存在相同的元素，则判断RAM芯片地址引脚不存在布线缺陷。
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