[发明专利]一种磁电阻自动测量装置及其测量方法无效

专利信息
申请号: 201110266541.5 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN102419425A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 白建民;吕华;刘明峰;王建国;薛松生 申请(专利权)人: 兰州大学;江苏多维科技有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 代理人: 任益
地址: 730000 甘肃*** 国省代码: 甘肃;62
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种磁电阻自动测量装置及其测量方法,包括磁电阻测量单元、磁场发生单元、样品移动单元以及控制单元,首先将待测磁电阻样品通过开口放入磁场发生单元内后,由控制单元发出测量控制信号,磁电阻测量单元接收测量控制信号后,与待测磁电阻样品中的任一磁电阻芯片相连接。然后控制单元依据预设的待测磁电阻芯片所需的测量要求控制磁场发生单元产生相应的测量磁场;磁电阻测量单元依据待测磁电阻芯片所需的测量要求设置相应的电流信号,并将测量获得的电压信号发送至控制单元,由控制单元依据电流信号以及电压信号计算获得相应待测磁电阻芯片的磁电阻值。本发明能够快速准确高效的自动测量大批量磁性材料芯片磁电阻。
搜索关键词: 一种 磁电 自动 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种磁电阻自动测量装置,其特征在于:包括磁电阻测量单元、磁场发生单元、样品移动单元以及控制单元,所述控制单元通过数据采集卡分别与磁电阻测量单元、磁场发生单元、以及样品移动单元相连接;所述磁场发生单元水平设于待测磁电阻样品的外围,待测磁电阻样品上方的磁场发生单元设有开口;所述磁电阻测量单元设于磁场发生单元的上方,所述样品移动单元设于磁场发生单元的下方,并与磁场发生单元连接固定;其中,所述磁电阻测量单元接收控制单元的测量控制信号,并通过开口与待测磁电阻样品相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰州大学;江苏多维科技有限公司,未经兰州大学;江苏多维科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110266541.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top