[发明专利]基于Abbe矢量成像模型获取掩膜空间像的方法有效
申请号: | 201110268282.X | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN102323722A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 李艳秋;董立松;马旭 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 李爱英;杨志兵 |
地址: | 100081 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种基于Abbe矢量成像模型获取掩膜空间像的方法,具体步骤为将掩模图形M栅格化为N×N个子区域;并根据部分相干光源的形状将光源面进行栅格化成多个点光源,用每一栅格区域中心点坐标(xs,ys)表示该栅格区域所对应的点光源坐标;计算各点光源对应像面上掩膜空间像I(αs,βs);并根据阿贝Abbe方法,对各点光源的掩模空间像I(αs,βs)进行叠加,获取部分相干光源对应像面位置掩膜空间像I。本发明能够将光源面栅格化成多个点光源,针对于各点光源其计算的掩膜空间像的精确度高,该方法可适应不同面形的光源。 | ||
搜索关键词: | 基于 abbe 矢量 成像 模型 获取 空间 方法 | ||
【主权项】:
一种基于Abbe矢量成像模型获取掩膜空间像的方法,其特征在于,具体步骤为:步骤101、将掩膜图形M栅格化为N×N个子区域;步骤102、根据部分相干光源的形状将光源面栅格化成多个点光源,用每一栅格区域中心点坐标(xs,ys)表示该栅格区域所对应的点光源坐标;步骤103、针对单个点光源,利用其坐标(xs,ys)获取该点光源照明时对应晶片位置上的空间像I(αs,βs);步骤104、判断是否已经计算出所有点光源对应晶片位置上的空间像,若是,则进入步骤105,否则返回步骤103;步骤105、根据阿贝Abbe方法,对各点光源对应的空间像I(αs,βs)进行叠加,获取部分相干光源照明时,晶片位置上的空间像I。
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