[发明专利]基于Abbe矢量成像模型获取掩膜空间像的方法有效

专利信息
申请号: 201110268282.X 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN102323722A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 李艳秋;董立松;马旭 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李爱英;杨志兵
地址: 100081 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于Abbe矢量成像模型获取掩膜空间像的方法,具体步骤为将掩模图形M栅格化为N×N个子区域;并根据部分相干光源的形状将光源面进行栅格化成多个点光源,用每一栅格区域中心点坐标(xs,ys)表示该栅格区域所对应的点光源坐标;计算各点光源对应像面上掩膜空间像I(αs,βs);并根据阿贝Abbe方法,对各点光源的掩模空间像I(αs,βs)进行叠加,获取部分相干光源对应像面位置掩膜空间像I。本发明能够将光源面栅格化成多个点光源,针对于各点光源其计算的掩膜空间像的精确度高,该方法可适应不同面形的光源。
搜索关键词: 基于 abbe 矢量 成像 模型 获取 空间 方法
【主权项】:
一种基于Abbe矢量成像模型获取掩膜空间像的方法,其特征在于,具体步骤为:步骤101、将掩膜图形M栅格化为N×N个子区域;步骤102、根据部分相干光源的形状将光源面栅格化成多个点光源,用每一栅格区域中心点坐标(xs,ys)表示该栅格区域所对应的点光源坐标;步骤103、针对单个点光源,利用其坐标(xs,ys)获取该点光源照明时对应晶片位置上的空间像I(αs,βs);步骤104、判断是否已经计算出所有点光源对应晶片位置上的空间像,若是,则进入步骤105,否则返回步骤103;步骤105、根据阿贝Abbe方法,对各点光源对应的空间像I(αs,βs)进行叠加,获取部分相干光源照明时,晶片位置上的空间像I。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110268282.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top