[发明专利]折射率的测量方法和折射率的测量装置有效
| 申请号： | 201110268850.6 | 申请日： | 2011-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN102435584A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 杉本智洋 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 卜荣丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本申请涉及折射率的测量方法和折射率的测量装置。该测量方法包括：测量第一容器中的测试对象与第一介质的光路长度之和；将光引入到包括第一介质、但不包括测试对象的区域中，并测量第一介质的光路长度；测量第二容器中的测试对象与第二介质的光路长度之和，第二介质具有与第一介质的折射率不同的折射率；将光引入到包括第二介质、但不包括测试对象的区域中，并测量第二介质的光路长度；基于测量的光路长度和被测量了各光路长度的光路的实际距离来计算测试对象的折射率。 | ||
| 搜索关键词： | 折射率 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种测量方法，包括：第一测量步骤，所述第一测量步骤将光引入到布置在第一容器中的测试对象和第一介质中，并测量测试对象的光路长度与第一介质的光路长度之和；第二测量步骤，所述第二测量步骤将光引入到包括第一介质、但不包括测试对象的区域中，并测量第一介质的光路长度；第三测量步骤，所述第三测量步骤将光引入到布置在第二容器中的测试对象和第二介质中，并测量测试对象的光路长度与第二介质的光路长度之和，第二介质具有与第一介质的折射率不同的折射率；第四测量步骤，所述第四测量步骤将光引入到包括第二介质、但不包括测试对象的区域中，并测量第二介质的光路长度；和计算步骤，所述计算步骤基于在每个测量步骤中测量的光路长度和在每个测量步骤中被测量了各光路长度的光路的实际距离来计算测试对象的折射率。
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