[发明专利]测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统有效
| 申请号： | 201110273039.7 | 申请日： | 2011-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN102566095A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 樊仲维;邱基斯;唐熊忻 | 申请（专利权）人： | 北京国科世纪激光技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统，其中方法包括：在液晶空间光调制器里写入图像，图像包括主显示区和位于主显示区域两侧的两个辅助显示区，主显示区包含第一标准灰度信息，辅助显示区包含第二标准灰度信息；液晶空间光调制器过滤第二标准灰度信息并将第一标准灰度信息转换为测试灰度信息并输出到光电传感器；对光电传感器获取的测试灰度信息进行归一化处理，利用归一化结果绘制gamma曲线。本发明减少了测量gamma曲线的工作量，数据稳定性也更高。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 液晶 空间 调制器 gamma 曲线 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法，其特征在于，包括以下步骤：在液晶空间光调制器里写入图像，图像包括主显示区和位于主显示区域两侧的两个辅助显示区，主显示区包含第一标准灰度信息，辅助显示区包含第二标准灰度信息；液晶空间光调制器过滤第二标准灰度信息并将第一标准灰度信息转换为测试灰度信息并输出到光电传感器；对光电传感器获取的测试灰度信息进行归一化处理，利用归一化结果绘制gamma曲线。
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