[发明专利]检测装置和处理系统有效
申请号: | 201110276370.4 | 申请日: | 2011-09-15 |
公开(公告)号: | CN102637335A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 莳田圣吾;山口昭治;坂卷克己 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G08B13/24 | 分类号: | G08B13/24 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种检测装置和一种处理系统。当带有附着磁性体的纸的用户进入产生磁场的出入口时,由于磁场而在磁性体中产生急剧的反磁化。结果,脉冲电流流入设置在出入口中的检测线圈中,并且所产生的表示特性瞬态响应的波形信号输出到终端装置。终端装置计算该波形与所存储的多个基准波形的相关系数,另外还计算所计算出的相关系数的平均值,并且确定平均值是否等于或大于阈值。当平均值等于或大于阈值时,终端装置指示成像装置对用户进行成像。当平均值小于阈值时,不允许成像装置对用户进行成像。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 处理 系统 | ||
【主权项】:
一种检测装置,包括:磁场发生单元,用于产生磁场;感测单元,用于检测所述磁场由受所产生的所述磁场激励的磁性体引起的改变,并且响应于所检测到的所述磁场的改变而输出信号;放大单元,用于放大从所述感测单元输出的信号,以输出表示瞬态响应波形的波形信号;第一计算单元,用于计算并输出所述瞬态响应波形与表示预先存储的瞬态响应波形的第一基准波形之间的第一相关系数;第二计算单元,用于计算并输出所述瞬态响应波形与表示预先存储的瞬态响应波形的第二基准波形之间的第二相关系数;第三计算单元,用于基于所述第一相关系数和所述第二相关系数计算出一个值;以及检测单元,其在所述第三计算单元计算出的值满足预定条件时,输出表示检测到所述磁性体的检测信号。
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