[发明专利]SRAM单元及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110282569.8 申请日: 2011-09-21
公开(公告)号: CN103022039A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 朱慧珑;梁擎擎 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L21/8244
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种SRAM单元及其制作方法。该SRAM单元包括:半导体层;以及在半导体层上形成的第一鳍式场效应晶体管(FinFET)和第二FinFET,其中所述第一FinFET包括对所述半导体层构图而形成的第一鳍片,所述第一鳍片具有第一顶面和第一底面,所述第二FinFET包括对所述半导体层构图而形成的第二鳍片,所述第二鳍片具有第二顶面和第二底面,其中,所述第一顶面与所述第二顶面持平,所述第一底面和第二底面接于所述半导体层,且所述第二鳍片的高度高于所述第一鳍片的高度。
搜索关键词: sram 单元 及其 制作方法
【主权项】:
一种静态随机存取存储器(SRAM)单元,包括:半导体层;以及在半导体层上形成的第一鳍式场效应晶体管(FinFET)和第二FinFET,其中所述第一FinFET包括对所述半导体层构图而形成的第一鳍片,所述第一鳍片具有第一顶面和第一底面,所述第二FinFET包括对所述半导体层构图而形成的第二鳍片,所述第二鳍片具有第二顶面和第二底面,其中,所述第一顶面与所述第二顶面持平,所述第一底面和第二底面接于所述半导体层,且所述第二鳍片的高度高于所述第一鳍片的高度。
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