[发明专利]调整PECVD气流出口位置以改善大面积下膜层均匀度无效
申请号: | 201110283740.7 | 申请日: | 2011-09-22 |
公开(公告)号: | CN103014663A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 戴嘉男;刘幼海;刘吉人 | 申请(专利权)人: | 吉富新能源科技(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/52;C23C16/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200000 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明目的在调整PECVD气流出口位置以改善大面积下膜层均匀度。其系统包含入口端、加热抽真空腔、P型半导体薄膜制程腔、I型半导体薄膜制程腔、N型半导体膜膜制程腔、降温破真空腔及出口端,在每个腔体内都设有传送轮轴及真空pump,且制程腔内部则都有加热装置、Showerhead气流孔、自动压力控制器APC及RF电极,以便进行镀膜制程。当TCO玻璃由入口端传送进入到加热抽真空后,当传送P型半导体薄膜制程腔时,将此发明把气流出口位置调整至离pump端较远处,使其气体从showerhead开始扩散时,气体能够有较多时间在TCO玻璃上,此时开始电浆开启镀上P型半导体,且I型与N型半导体也是以同样的方式,利用此发明的设计镀上I型及N型硅薄膜,完成后再破真空至大气,且传入出口端即可。此种发明可以扩展卧式PECVD在大面积尺寸下仍然能够可以有较佳的镀膜均匀度,藉此以提升膜层均匀度,且也可增加太阳能硅薄膜电池效率。 | ||
搜索关键词: | 调整 pecvd 气流 出口 位置 改善 大面积 下膜层 均匀 | ||
【主权项】:
一种调整PECVD气流出口位置以改善大面积下膜层均匀度的方法,其系统主要包含入口端、加热抽真空腔、P型半导体薄膜制程腔、I型半导体薄膜制程腔、N型半导体膜膜制程腔、降温破真空腔及出口端,在每个腔体内都设有传送轮轴及真空pump,且制程腔内部则都有加热装置、Showerhead气流孔、自动压力控制器APC及RF电极,以便进行镀膜制程,当TCO玻璃由入口端传送进入到加热抽真空后,当传送P型半导体薄膜制程腔时,将此发明把气流出口位置调整至离pump端较远处,使其气体从showerhead开始扩散时,气体能够有较多时间在TCO玻璃上,此时开始电浆开启镀上P型半导体,且I型与N型半导体也是以同样的方式,利用此发明的设计镀上I型及N型硅薄膜,完成后再破真空至大气,且传入出口端即可;此种发明可以扩展卧式PECVD在大面积尺寸下仍然能够可以有较佳的镀膜均匀度,藉由此方法可以提升膜层均匀度,且也可增加太阳能硅薄膜电池效率。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的