[发明专利]调整PECVD气流出口位置以改善大面积下膜层均匀度无效

专利信息
申请号: 201110283740.7 申请日: 2011-09-22
公开(公告)号: CN103014663A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 戴嘉男;刘幼海;刘吉人 申请(专利权)人: 吉富新能源科技(上海)有限公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/52;C23C16/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200000 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明目的在调整PECVD气流出口位置以改善大面积下膜层均匀度。其系统包含入口端、加热抽真空腔、P型半导体薄膜制程腔、I型半导体薄膜制程腔、N型半导体膜膜制程腔、降温破真空腔及出口端,在每个腔体内都设有传送轮轴及真空pump,且制程腔内部则都有加热装置、Showerhead气流孔、自动压力控制器APC及RF电极,以便进行镀膜制程。当TCO玻璃由入口端传送进入到加热抽真空后,当传送P型半导体薄膜制程腔时,将此发明把气流出口位置调整至离pump端较远处,使其气体从showerhead开始扩散时,气体能够有较多时间在TCO玻璃上,此时开始电浆开启镀上P型半导体,且I型与N型半导体也是以同样的方式,利用此发明的设计镀上I型及N型硅薄膜,完成后再破真空至大气,且传入出口端即可。此种发明可以扩展卧式PECVD在大面积尺寸下仍然能够可以有较佳的镀膜均匀度,藉此以提升膜层均匀度,且也可增加太阳能硅薄膜电池效率。
搜索关键词: 调整 pecvd 气流 出口 位置 改善 大面积 下膜层 均匀
【主权项】:
一种调整PECVD气流出口位置以改善大面积下膜层均匀度的方法,其系统主要包含入口端、加热抽真空腔、P型半导体薄膜制程腔、I型半导体薄膜制程腔、N型半导体膜膜制程腔、降温破真空腔及出口端,在每个腔体内都设有传送轮轴及真空pump,且制程腔内部则都有加热装置、Showerhead气流孔、自动压力控制器APC及RF电极,以便进行镀膜制程,当TCO玻璃由入口端传送进入到加热抽真空后,当传送P型半导体薄膜制程腔时,将此发明把气流出口位置调整至离pump端较远处,使其气体从showerhead开始扩散时,气体能够有较多时间在TCO玻璃上,此时开始电浆开启镀上P型半导体,且I型与N型半导体也是以同样的方式,利用此发明的设计镀上I型及N型硅薄膜,完成后再破真空至大气,且传入出口端即可;此种发明可以扩展卧式PECVD在大面积尺寸下仍然能够可以有较佳的镀膜均匀度,藉由此方法可以提升膜层均匀度,且也可增加太阳能硅薄膜电池效率。
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