[发明专利]硬X射线微聚焦高级次多层膜Laue透镜有效

专利信息
申请号: 201110287085.2 申请日: 2011-09-24
公开(公告)号: CN103021496A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 黄秋实;朱京涛;李浩川;王占山 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G21K1/06 分类号: G21K1/06
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 叶敏华
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及硬X射线微聚焦高级次多层膜Laue透镜,通过改变组成多层膜Laue透镜局部光栅的2种材料的厚度比(γ=dA/(dA+dB),A为吸收层,B为间隔层),选择合适的截面深度t,极大的提高高级次衍射的效率,从而有效的利用高级次衍射光,进一步提高硬X射线的聚焦分辨率。与传统的多层膜Laue透镜相比,本发明提出利用Laue透镜的高级次衍射对硬X射线进行聚焦,并通过改变Laue透镜结构中不同材料的厚度比,克服了传统波带片高级次衍射效率低下的问题,是实现高效率纳米级硬X射线聚焦的有效方法。
搜索关键词: 射线 聚焦 级次 多层 laue 透镜
【主权项】:
硬X射线微聚焦高级次多层膜Laue透镜,其特征在于,该Laue透镜由吸收层和间隔层周期性构成,其中所述吸收层的材料是局部光栅中的高原子序数材料A,间隔层材料是低原子序数材料B。
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