[发明专利]一种氮化铝薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110287431.7 申请日: 2011-09-26
公开(公告)号: CN102296278A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 饶志鹏;万军;夏洋;李超波;刘键;陈波;黄成强;石莎莉;李勇滔 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种用原子层沉积设备制备氮化铝薄膜的方法。所述制备方法,包括如下步骤:将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;向原子层沉积设备反应腔中通入含铝物质,含碳物质与硅衬底表面发生化学反应,使得含铝物质中的铝原子吸附在硅衬底表面;向原子层沉积设备反应腔中通入含氮物质,含氮物质与硅衬底表面发生卤代反应,含氮物质中的氮氮原子与硅衬底表面的铝原子形成铝氮键,待反应完全后,硅衬底表面即生成氮化铝薄膜结构。本发明利用ALD设备和常见的前躯体,在常温低压下就能制备出氮化铝薄膜,并且可有效的降低能耗,提高氮化铝薄膜的均一性和降低薄膜粗糙度,而且在制作过程中还能有效的降低Al水解带来的不利影响。
搜索关键词: 一种 氮化 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种氮化铝薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;向所述原子层沉积设备反应腔中通入含铝物质,所述含碳物质与所述硅衬底表面发生化学反应,使得所述含铝物质中的铝原子吸附在所述硅衬底表面;向所述原子层沉积设备反应腔中通入含氮物质,所述含氮物质与所述硅衬底表面发生卤代反应,所述含硅质中的氮原子与所述硅衬底表面的铝原子形成铝硅键,待反应完全后,所述硅衬底表面即生成氮化铝薄膜结构。
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